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HITACH冷热冲击箱
HITACH冷热冲击箱
产品用途：
本产品广泛应用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，
国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC？半导体陶瓷机高分子材料的物理性变化、测试
材料对高、低温的反复变化下其热胀冷缩的可靠性，以此可确认产品的质量，从精密的IC到重机械的元件，
可作为其产品改进的依据或参考。
性能优势：
1.可编程，并可多程序组合运行，并可通过与外部电脑连接实现远程操作
2.试验槽温度使用范围：-70℃～200℃
3.高温槽温度设定范围：+60℃～200℃
4.低温槽温度设定范围：-70～0℃
5.温度波动小：±0.5℃
6.冲击复归时间：5分钟
7.高低温冲击恒温时间各为20 min
Specitications规格参数 标准型号 ES-76LH ES-106LH ES-206LH ES-57L ES-107L ES-306L ES-76LM 性 温度范围 (试验箱内)*2 低温试验 -70
to 0℃ 高温试验 60 to 200℃ 温度波动范围 ±0.5℃ 温度上升时间 (高温试验箱)常温→200℃ 15 min以内 温度下降时间 (高温试验箱)常温→-75℃ 50 min以内 45 min以内 75 min以内 70 min以内 45 min以内 温 循环数 5 个循环 (低温开始) 试验温度/试验时间 低温 ﹣65℃/30min. ﹣55℃/31min. 常温 环境温度/5min. 环境温度/10min. 环境温度/5min. — 高温 150℃/30min. 150℃/15min 温度恢复时间*5 5min. 10min. 5min. 10min. 5min. 试验箱容量 (L) 70 100 200 47 105 300 70 腔体尺寸(mm) 宽度 390 470 630 275 470 720 390 深度 390 485 690 375 485 920 390 高度 460 产品尺寸 (mm) 宽度 1300 1380 1535 1140 1380 1625 1300 深度 1270 1400 1450 1050 1270 1750 1555 高度 1980
能
度
循
环
性
能
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